A63.7069 Tungsten Filament Scanning इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप, Std। SEM, 6x ~ 600000x
| A63.7069 टंगस्टन फिलामेन्ट इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप स्क्यान गर्दै, Std। SEM | ||
| रिजोलुसन | 3nm @ 30KV (SE); 6nm @ 30KV (BSE) | |
| म्याग्निफिकेशन | नकरात्मक म्याग्निफिकेसन: xx ~ 300000x; स्क्रिन म्याग्निफिकेशन: १२x ~ 600000x | |
| इलेक्ट्रोन गन | Tungsten गरम क्याथोड-पूर्व केन्द्रित Tungsten Filament कार्ट्रिज | |
| त्वरित भोल्टेज | ० ~ K० केभी | |
| लेन्स प्रणाली | तीन-स्तर इलेक्ट्रोमॅग्नेटिक लेन्स (टेपर्ड लेन्स) | |
| उद्देश्य एपर्चर | मोलिब्डेनम एपर्चर समायोज्य बाहिर भ्याकुम प्रणाली | |
| नमूना स्टेज | पाँच अक्ष चरण | |
| यात्रा सीमा | X (अटो) | ० ~ mm० मिमी |
| Y (Auto) | ० ~ mm० मिमी | |
| Z (म्यानुअल) | ० ~ mm० मिमी | |
| आर (म्यानुअल) | ºº०º | |
| टी (म्यानुअल) | -5º ~ 90º | |
| अधिकतम व्यास व्यास | १55 मिमि | |
| डिटेक्टर | SE: उच्च भ्याकुम माध्यमिक इलेक्ट्रोन डिटेक्टर (डिटेक्टर संरक्षणको साथ) | |
| बीएसई: अर्धचालक फोर सेग्मेन्सन ब्याक स्केटरिंग डिटेक्टर | ||
| CCD | ||
| परिमार्जन | स्टेज अपग्रेड; EBL; STM; AFM; हीटिंग स्टेज; क्रायो स्टेज; टेन्सिल स्टेज; माइक्रो-नानो मनिपुलेटर; SEM + कोटिंग मेशिन; SEM + लेजर | |
| सामान | CCD, LaB6, X-Ray डिटेक्टर (EDS), EBSD, CL, WDS, कोटिंग मेशिन | |
| भ्याकुम प्रणाली | टर्बो आणविक पम्प; रोटेशन पम्प | |
| इलेक्ट्रोन बीम वर्तमान | 10pA ~ 0.1μA | |
| पीसी | अनुकूलित डेल कार्य स्टेशन | |
इलेक्ट्रोन माइक्रोस्कोपी (सेम) स्क्यान गर्दै धातु, सिरेमिक, अर्धचालक, खनिज, जीवविज्ञान, पोलिमर, कम्पोजिट र न्यानो-स्केल एक आयामी, द्वि-आयामी र तीन आयामी सामग्री (माध्यमिक इलेक्ट्रोन छवि, बैकस्केटेड इलेक्ट्रोन छवि) .यो microregion को बिन्दु, रेखा र सतह अवयव विश्लेषण गर्न प्रयोग गर्न सकिन्छ। यो पेट्रोलियम, भूविज्ञान, खनिज क्षेत्र, इलेक्ट्रोनिक्स, अर्धचालक क्षेत्र, औषधि, जीवविज्ञान क्षेत्र, रसायनिक उद्योग, बहुलक सामग्री क्षेत्र, सार्वजनिक सुरक्षा, कृषि, वन र अन्य क्षेत्रहरूको आपराधिक अनुसन्धान।
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